走査電子顕微鏡

「走査電子顕微鏡」の英語

「走査電子顕微鏡」は英語で scanning electron microscope、略して SEM と言います。一般的な「電子顕微鏡」は electron microscope で、表面の細かな形状を観察する装置を特に SEM と呼びます。

「走査電子顕微鏡」の英語の使い分け

「走査電子顕微鏡」の例文

Researchers examined the sample with an electron microscope to see nanoscale structures.

研究者は試料を電子顕微鏡で観察してナノスケールの構造を確認した。

コアイメージ

電子顕微鏡は加速した電子で試料の表面や内部を拡大して観察する装置

英英

A laboratory instrument that forms magnified images of samples by scanning or transmitting an accelerated beam of electrons, revealing details smaller than possible with visible light.

語源

electron microscopeは、electron(電子)とmicroscope(顕微鏡)の組み合わせで、電子を用いて観察する顕微鏡を意味する。

コラム

  • 研究現場では電子顕微鏡を略して電顕と呼ぶことが多く透過型は内部構造の観察、走査型は表面形態の観察に向くという使い分けがある

「走査電子顕微鏡」のレベル別の例文

「走査電子顕微鏡」を英語にするときのよくある間違い

「走査電子顕微鏡」の英語についてよくある質問

Q. 「走査電子顕微鏡」を英語で一言で言うと?
scanning electron microscope と言い、SEM と略すのが一般的です。
Q. 「走査電子顕微鏡」と「電子顕微鏡」の違いは?
electron microscope は電子顕微鏡全般を指し、scanning electron microscope は主に試料表面の形態を観察するタイプを指します。
Q. 「走査電子顕微鏡」の論文での略し方は?
最初に scanning electron microscope (SEM) と書き、その後は SEM と略すのが一般的です。

「走査電子顕微鏡」と関連する日本語の英語

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